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產(chǎn)品[

x射線熒光膜厚儀

]資料
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以 產(chǎn)品名稱: x射線熒光膜厚儀
產(chǎn)品型號(hào): X-RAY XDL 210
產(chǎn)品展商: 德國菲希爾Fischer
關(guān)注指數(shù):24626
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
咨詢電話:0512-68050030
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簡單介紹
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL?是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測(cè)量鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。

x射線熒光膜厚儀

   的詳細(xì)介紹
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210型X 射線熒光光譜儀,采用手動(dòng)或自動(dòng)方式,測(cè)量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。英文FISCHERSCOPE X-RAY XDL。

x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

? 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測(cè)量薄鍍層,例如裝飾鉻

? 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動(dòng)測(cè)量,如測(cè)量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?br>
x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。多可同時(shí)測(cè)量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。XDL X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。


x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210設(shè)計(jì)理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計(jì)為界面友好的臺(tái)式測(cè)量儀器系列。我們會(huì)根據(jù)樣品平臺(tái)的運(yùn)行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號(hào)的儀器以滿足實(shí)際應(yīng)用的需求。

XDL210:平面樣品平臺(tái),固定的Z 軸系統(tǒng)

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能,可以定位測(cè)量位置。通過視頻窗口,還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程和進(jìn)度。配有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y 樣品平臺(tái)的儀器還配備了激光點(diǎn),可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)量位置。測(cè)量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計(jì),可以測(cè)量比測(cè)量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作,測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算,以及測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。XDL 型光譜儀是**而保護(hù)**的測(cè)量儀器,型式許可符合德國“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法規(guī)規(guī)定。


x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210通用規(guī)范:

用途

能量色散X 射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測(cè)量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量組分。

元素范圍 多同時(shí)測(cè)量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素設(shè)計(jì)理念 臺(tái)式儀器,測(cè)量門向上開啟

測(cè)量方向 從上到下

X 射線源

X 射線源 帶鈹窗口的鎢管

高壓 三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調(diào)整

孔徑(準(zhǔn)直器) Ø 0.3 mm (可選:圓形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm)

測(cè)量點(diǎn)

取決于測(cè)量距離及使用 的準(zhǔn)直器大??;實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致。

小的測(cè)量點(diǎn)大小約Ø 0.16mm.

測(cè)量距離,如測(cè)量腔體內(nèi)部

0 ~ 80 mm,未校準(zhǔn)范圍,使用保護(hù)的DCM 功能

0 ~ 20 mm,已校準(zhǔn)范圍, 使用保護(hù)的DCM 功能

X 射線探測(cè)

X 射線接收器 比例接收器

樣品定位

視頻顯微鏡

高分辨 CCD 彩色攝像頭, 用于查看測(cè)量位置

手動(dòng)調(diào)焦或自動(dòng)聚焦

十字線刻度和測(cè)量點(diǎn)大小經(jīng)過校準(zhǔn)

測(cè)量區(qū)域照明亮度可調(diào)

激光點(diǎn)用于定位樣品

放大倍數(shù) 20x ~ 180x (光學(xué)變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

樣品臺(tái) XDL 210

設(shè)計(jì) 固定式樣品平臺(tái)

大移動(dòng)范圍 -

X/Y 平臺(tái)移動(dòng)速度 -

X/Y 平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度 -

Z 軸移動(dòng)范圍 -

可用樣品放置區(qū)域 463 x 500 mm

樣品大重量 20 kg

樣品大高度 155/90/25 mm

激光定位點(diǎn) -

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測(cè)試


x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210電氣參數(shù):

電壓,頻率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率 120 W (不包括計(jì)算機(jī))

保護(hù)等級(jí) IP40


x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210儀器規(guī)格:

外部尺寸 x x [mm]570 x 760 x 650

重量 XDL21090 kg;XDL22095 kg XDL230105 kg;XDL240120 kg

內(nèi)部測(cè)量室尺寸 x x [mm]: 460 x 495 (參考“樣品大高度”部分的說明)

環(huán)境要求

操作溫度 10°C 40°C / 50°F 104°F

儲(chǔ)藏或運(yùn)輸溫度 0°C 50°C / 32°F 122°F

空氣濕度 ≤ 95 %,無結(jié)露


x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210計(jì)算系統(tǒng):

計(jì)算機(jī) 帶擴(kuò)展卡的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)

軟件

標(biāo)準(zhǔn): WinFTM® V.6 LIGHT

可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDMSUPER


x射線熒光膜厚儀|x射線熒光測(cè)厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾
FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

CE 合格標(biāo)準(zhǔn) EN 61010

X 射線標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式許可

**而保護(hù)**的測(cè)量儀器,型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV

法規(guī)規(guī)定。

如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型號(hào)。

涂裝 相關(guān)儀器:涂層測(cè),漆膜度測(cè),電解膜黏度計(jì)/度計(jì),X測(cè)附著測(cè),微型,分光,霧影,反射率測(cè),涂膜干時(shí)間記錄儀,標(biāo)準(zhǔn)光源

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